ГОСТ Р 8.716-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика выполнения измерений
от 0 руб.
Есть в наличии
Рассчитать доставку
Информация о документе
Номер
ГОСТ Р 8.716-2010
Название
Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика выполнения измерений
Статус
ДЕЙСТВУЕТ
Количество страниц
12
Подробная информация
Цена действительна только для интернет-магазина и может отличаться от цен в розничных магазинах
Описание
Настоящий стандарт распространяется на средства измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм - рефлектометры экстремального вакуумного ультрафиолетового излучения, предназначенные для измерения коэффициентов зеркального и диффузного отражения, и устанавливает методику измерений коэффициентов зеркального и диффузного отражения.Информация о документе
Номер
|
ГОСТ Р 8.716-2010 |
Название
|
Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика выполнения измерений |
Статус
|
ДЕЙСТВУЕТ |
Количество страниц
|
12 |
Действует с
|
01.01.2012 |
КГС
|
Т84.10 |
ОКС
|
17.020 |
Ведомство
|
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РФ |
Аннотация
|
Настоящий стандарт распространяется на средства измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм - рефлектометры экстремального вакуумного ультрафиолетового излучения, предназначенные для измерения коэффициентов зеркального и диффузного отражения, и устанавливает методику измерений коэффициентов зеркального и диффузного отражения. |
Артикул
|
53098 |